納米粒度儀及電位分析儀-上海胤煌科技有限公司

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納米粒度儀及電位分析儀

APS-100高濃度納米粒度儀 Zeta-APS電位分析儀 ZetaZF400-電位分析儀 ZetaZA500-電位分析儀原液在線檢測分析儀 CHDF3000高分辨納米粒度儀 CHDF4000高分辨納米粒度儀納米粒度儀分析儀

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APS-100型高濃度納米粒度儀

更新時(shí)間：2024-11-26

型號(hào)：APS-100型

瀏覽量：2856

高濃度納米粒度儀-美國MAS公司成立至今有30余年歷史，專注于超聲電聲法原理顆粒度檢測、Zeta電位分析儀的研發(fā)生產(chǎn)。超聲法原理測試樣品的顆粒分布，是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強(qiáng)度的超聲波在樣品中傳播，由于不同大小粒徑對聲波的吸收、散射作用不同，導(dǎo)致聲波衰減程度不同。根據(jù)顆粒大小和聲波衰減之間的函數(shù)關(guān)系，得到顆粒的粒度分布。
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ZetaZF400型超聲電聲法Zeta電位儀

更新時(shí)間：2024-11-26

型號(hào)：ZetaZF400型

瀏覽量：1755

超聲電聲法Zeta電位儀可同時(shí)測量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作。
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ZetaAPS高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2024-11-26

型號(hào)：ZetaAPS

瀏覽量：2501

ZetaAPS高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀是高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測儀，可以測試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。此儀器容易使用、測量精確。對于高達(dá)60%（體積）濃度的樣品，也無需進(jìn)行稀釋或樣品前處理，即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進(jìn)行測量。
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APS-100型高濃度納米粒度儀

更新時(shí)間：2024-11-26

型號(hào)：

瀏覽量：4192

APS-100高濃度納米粒度儀，APS 從聲衰減光譜測量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品。APS還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導(dǎo)率和溫度。
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Zeta-FinderZF400型ZetaFinder ZF400 高濃度Zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2020-03-20

型號(hào)：Zeta-FinderZF400型

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ZetaFinder ZF400 高濃度Zeta電位分析儀采用專門的電動(dòng)聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動(dòng)測量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限，該儀器可同時(shí)測量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作；
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ZetaAPS型高濃度納米粒度儀及zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2021-08-19

型號(hào)：ZetaAPS型

瀏覽量：4547

Zeta-APS 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀$nZeta-ASP是高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測儀，可以測試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。$n此儀器容易使用、測量精確。對于高達(dá)60%（體積）濃度的樣品，也無需進(jìn)行稀釋或樣品前處理，即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進(jìn)行測量。
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ZetaAcoustic ZA500 高濃度Zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2020-11-25

型號(hào)：

瀏覽量：5417

ZetaAcoustic ZA500 高濃度Zeta電位分析儀$n美國MAS公司成立至今有30余年歷史，專注于超聲電聲法原理顆粒度檢測、 Zeta電位分析儀的研發(fā)生產(chǎn)。超聲法原理測試樣品的顆粒分布，是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強(qiáng)度的超聲波在樣品中傳播，由于不同大小粒徑對聲波的吸收、散射作用不同，導(dǎo)致聲波衰減程度不同。根據(jù)顆粒大小和聲波衰減之間的函數(shù)關(guān)系，得到顆粒的粒度分布。
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CHDF3000型高分辨率納米粒度儀

更新時(shí)間：2020-03-19

型號(hào)：CHDF3000型

瀏覽量：3675

高分辨率納米粒度儀 1】高分辨率粒度分布（PSD）測量新的技術(shù)，包括顆粒檢測高靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍和納米顆粒優(yōu)化分析。 2】粒子分餾的真實(shí) PSD 數(shù)據(jù)。無需對粒徑分布的形狀進(jìn)行假設(shè)。 3】精確非均勻樣品分析—包括納米顆粒—?dú)w功于其與顆粒密度無關(guān)的分析。 4】自動(dòng)/無人操作。所有組件都在一個(gè)簡易單一窗口界面控制和操作。
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